日本h-repic半導體制造用視覺LED檢查燈SPA2-10CD 型號：SPA2-10CD / SPA2-10CW / SPA2-10SD / SPA2-10SW 使用行業(yè)領(lǐng)xian的4芯片LED 我們*的恒流調(diào)光方法 結(jié)構(gòu)可實現(xiàn)jia照明

日本NCC用于內(nèi)置設(shè)備的異物檢查燈LED Ages 它是一種可視化燈，可以照射更多的直射光，因為它使用了據(jù)說具有較高相對視覺靈敏度的綠光LED（峰值波長約為525 nm）和具有30度方向特性的槍式彈性LED。由于照射范圍廣，因此在膜接合工序，半成品的表面檢查等中，可以觀察到大約10μm的異物。

日本ncc超緊湊型紫外線檢查燈Artel S UV 清潔后的殘油通常是肉眼看不見的，并且會影響后續(xù)的涂層，粘合和組裝。生產(chǎn)現(xiàn)場使用的油通常包含熒光物質(zhì)，這些物質(zhì)是發(fā)光的來源，通過用UV Artel S輻照，產(chǎn)品中殘留的油會發(fā)光并且可以通過肉眼看到。它可以用作內(nèi)部清潔場所質(zhì)量改進的管理工具，而無需將剩余油含量的測量外包。

日本ncc便于攜帶的小型LED產(chǎn)品瑕疵檢查燈Quantum 在諸如噴漆，印刷，精密裝配和薄膜制造等場所，會發(fā)生許多由灰塵等粗顆粒引起的缺陷。然而，在正常情況下不能目視確認粗顆粒。因此，通過用產(chǎn)生直度和強光的“量子”照射產(chǎn)品和夾具的表面，很容易在視覺上檢查粗顆粒。

日本ncc用于檢查設(shè)備的清潔度和灰塵粘附Triton 在上漆，印刷，貼膜，精密裝配等過程中，z常見的缺陷是外觀缺陷。原因是工作現(xiàn)場浮起的灰塵以及附著在工作和設(shè)備上的灰塵。如果可以在視覺上預(yù)先觀察到，但可見顆粒的大小為90μm或更大，可以采取對策。由于在噴涂過程中出現(xiàn)問題的顆粒尺寸約為10μm，因此無法通過肉眼觀察到=無法采取任何對策。